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Repositorio Facultad de Ingeniería
Diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción obtenidos en un microscopio electrónico de transmisión
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| dc.contributor.author | López López, Ulysses | |
| dc.date.accessioned | 2024-11-22T15:43:52Z | |
| dc.date.available | 2024-11-22T15:43:52Z | |
| dc.date.issued | 2024-10-29 | |
| dc.identifier.citation | Interpretation of electron diffraction patterns, K.W. Andrews, D.J. Dyson, S.R. Keown, Hilger & Watts LTD, Plenum US, (1967), 5 – 129. Estructura de los sólidos, cristalografía, difracción y defectos, Meléndez Martínez Juan José, Badajoz, España: Universidad de Extremadura, (2021), 19 – 153. Indexing of electron diffraction spot patterns by computer, B. L. Rhoades, Microm, 6, (1975), 123-127. A computer program for unique indexing of electron diffraction patterns, W. Prantj, Erich-Schid, J. Appl, Cryst. 17, (1984), 39-42. Computer-Aided indexing of transmission electron diffraction patterns, Raymond P. Goehner and Prakash Rao, Metallography, 10, (1977), 415-424. JECP/PCED—a computer program for simulation of polycrystalline electron diffraction pattern and phase identification, X.Z. Li, Ultramicroscopy, 99, (2004), 257-261.A program for phase identification using diffractograms obtained from TEM structure images, R. Galicia, R. Herrera, J. L. Rius, C. Zorrilla, and A. Gómez, Revista Mexicana de Física, 59, (2013), 102-106.Francis A. Jenkins, Harvey E. White. Fundamentals of Optics. MacGraw-Hill Primls, (2001).DigitalMicrograph 3.4 User’s Guide,Gatan, Inc. (1999).Waseda Yoshio, Matsubara Eiichiro, Shinoda Kozo. X-Ray Diffraction Cristallography. Tokio, Japón: Universidad de Tohoku, (2011), 1 – 80.J. Kirkland Earl. Advanced Computing in Electron Microscopy. SpingerLink, (2010). Notas de Física, M. J. Yacamán y Alfredo Gómez, (1981), Instituto de Física, vol. 4 nº. 4. Nano phase characterization by transmission electron microscopy: experimental and simulation, Francisco Miguel Ascencio Aguirre, Lourdes Bazán-Díaz, Rubén Mendoza-Cruz, Alfredo Gómez Rodríguez, Cristina Zorrilla-Cangas, Raúl Herrera-Becerra, (2015), Materials Sciences and Applications, 6(11), pp. 935-942. | es_ES |
| dc.identifier.uri | http://www.ptolomeo.unam.mx:8080/xmlui/handle/RepoFi/19508 | |
| dc.description | Tesis que explica el diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción, para todo académico que le ayude en sus investigaciones. La tesis detalla el proceso para crear el programa denominado como PIPD-II, que es de software libre, además de contar con el manual de usuario y enlace para descargar dicho programa. | es_ES |
| dc.description.abstract | PIPD-II o mejor conocido como "Programa para indexar patrones de difracción II" es una propuesta para resolver el problema de indexar los patrones de difracción obtenidos directamente con el HTEM o a través de la FFT (transformada rápida de Fourier) de una zona selecta de una imagen obtenida con el mismo instrumento. | es_ES |
| dc.language.iso | es | es_ES |
| dc.subject | Diseño de software | es_ES |
| dc.subject | Patrones de difracción | es_ES |
| dc.subject | Indexación | es_ES |
| dc.subject | Rayos x | es_ES |
| dc.subject | Programa de escritorio | es_ES |
| dc.title | Diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción obtenidos en un microscopio electrónico de transmisión | es_ES |
| dc.type | Tesis | es_ES |
| dc.director.trabajoescrito | Herrera Becerra, Raúl | |
| dc.carrera.ingenieria | Ingeniería en computación | es_ES |
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Tesis 2024
Trabajos escritos para obtener grado académico de licenciatura en ingeniería de 2024.
