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Rediseño de un interferómetro láser tipo Michelson para la medición de desplazamientos submicrométricos

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dc.contributor.author Hernández Martínez, Roberto Alejandro
dc.date.accessioned 2023-11-23T16:24:49Z
dc.date.available 2023-11-23T16:24:49Z
dc.identifier.uri http://www.ptolomeo.unam.mx:8080/xmlui/handle/RepoFi/18907
dc.description Se presenta los cambios realizados a un interferómetro partiendo de un diseño previo. Se abordan tres aspectos importantes, un cambio en el arreglo óptico para obtener una cuadratura, un nuevo diseño de la estructura que integra la óptica y un acondicionamiento de la señal eléctrica para disminuir el ruido. Todos los cambios se centraron en puntos importantes para obtener un instrumento con menos errores que el diseño anterior. es_ES
dc.description.abstract Aprovechando el fenómeno de interferencia de la luz el interferómetro es uno de los instrumentos de medición mas fiables. La resolución teórica de el instrumento presentado en este trabajo es de 1/16 de la longitud de onda. es_ES
dc.language.iso es es_ES
dc.subject Interferencia de la luz es_ES
dc.subject Desfase óptico de 90° es_ES
dc.subject Acondicionamiento de la señal es_ES
dc.subject Señales en cuadratura es_ES
dc.subject Amplificador de transimpedancia es_ES
dc.subject Incertidumbre en el orden de micrómetros es_ES
dc.title Rediseño de un interferómetro láser tipo Michelson para la medición de desplazamientos submicrométricos es_ES
dc.type Tesis es_ES
dc.director.trabajoescrito Caballero Ruíz, Alberto
dc.carrera.ingenieria Ingeniería mecatrónica es_ES


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Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

  • Tesis 2023
    Trabajos escritos para obtener grado académico de licenciatura en ingeniería de 2023.

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