https://www.ingenieria.unam.mx Repositorio Facultad de Ingeniería

Control de distancia para microscopio de barrido con resolución micrométrica

Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.author Ascencio Rojas, Luis Felipe
dc.date.accessioned 2014-08-22T05:49:46Z
dc.date.available 2014-08-22T05:49:46Z
dc.date.issued 2014-08-22
dc.identifier.uri http://132.248.52.100:8080/xmlui/handle/132.248.52.100/4257
dc.description Cuenta con la descripción total del control, desde como se diseñaron las partes mecánicas, ópticas y electrónicas hasta el nivel de resolución que tiene. es_ES
dc.description.abstract La tesis proporciona un control de distancia entre una punta resonante y una muestra con alto índice de refracción, las cuales están dentro del microscopio de barrido de microondas. es_ES
dc.description.sponsorship Proyecto PAPIIT 104513 es_ES
dc.language.iso es es_ES
dc.subject Control es_ES
dc.subject Microscopio es_ES
dc.subject Amplificador es_ES
dc.subject Láser es_ES
dc.subject Fotodiodo es_ES
dc.title Control de distancia para microscopio de barrido con resolución micrométrica es_ES
dc.type Tesis es_ES
dc.director.trabajoescrito Qureshi, Naser
dc.carrera.ingenieria Ingeniería eléctrica y electrónica es_ES


Ficheros en el ítem

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem

Buscar en RepoFI


Búsqueda avanzada

Listar

Mi cuenta