Resumen:
La medición de resistencia de alta resolución es una tarea que requiere de instrumentos especializados y por lo común complejos. Si bien existen técnicas clásicas como el método de las cuatro puntas o instrumentos especializados como los medidores LCR o los analizadores de impedancia; también hay otras técnicas novedosas basadas en arquitecturas híbridas las cuales generalmente están compuesta por un sistema de acoplamiento analógico y una etapa de procesamiento digital. De forma que, este trabajo desarrolla dos propuestas de un sistema de medición, la primera está basada en un amplificador Lock-in para realizar mediciones de resistencia de alta resolución y la segunda en un ADC de alta resolución.
Descripción:
Este trabajo discute dos arquitecturas para realizar mediciones de alta resolución de resistencia. Cosiste en una propuesta basada en un amplificador Lock-in y un microcontrolador de propósito general, por otra parte, para la segunda propuesta se realiza la medición con un ADC de alta resolución. Finalmente, se presentan los resultados experimentales de cada arquitectura y diversas aplicaciones de la medición de impedancia en diferentes campos de investigación.
